Produkty
Newsletter
Podaj swój adres e-mail, jeżeli chcesz otrzymywać informacje o nowościach i promocjach.
Twoje dane będą przetwarzane zgodnie z naszą polityką prywatności
Zaloguj się
Nie pamiętasz hasła? Zarejestruj się

HIOKI RM2610 - system pomiarowy rezystancji blach elektrod akumulatorów ltowo-jonowych

Dostępność: dostępny na zamówienie
Dostawa: Cena nie zawiera ewentualnych kosztów płatności sprawdź formy dostawy

Opis

RM2610 - System pomiarowy rezystancji elektrod akumulatorów litowo-jonowych
• Wyodrębnia i kwantyfikuje rezystancję warstwy kompozytowej i rezystancję warstwy pośredniczącej akumulatora
• Stosowany do oceny arkuszy elektrodowych (elektrod dodatnich i ujemnych)
• Trzystopniowa procedura analizy rozkładu potencjału na powierzchni arkusza
• W skład systemu wchodzi: moduł ściskający RM9003, głowica pomiarowa RM9004, miernik rezystancji elektrod RM2611, przewód RM9005 łączący głowicę z miernikiem rezystancji oraz komputer użytkownika

 

DOWIEDZ SIĘ WIĘCEJ

• Wyodrębnia i kwantyfikuje rezystancję warstwy kompozytowej i rezystancję warstwy pośredniczącej akumulatora
• Obiekt pomiarowy: arkusze elektrod dodatnich i ujemnych akumulatorów litowo-jonowych
• Mierzone parametry:
- rezystywność warstwy kompozytowej [Ωcm]
- rezystancja warstwy pośredniczącej (rezystancji styku między warstwą kompozytową a warstwą kolektora prądu) [Ωcm2]
• Metoda obliczania: analiza odwrotności problemu (invwerse problem analyzis) rozkładu potencjału wykorzystująca metodę skończonej objętości (finite volume method)
- trzystopniowa procedura analizy rozkładu potencjału na powierzchni arkusza
krok 1.: pobranie rozkładu potencjału obserwowanego (mierzonego)
krok 2.: sporządzenie modelu arkusza elektrodowego i obliczenie rozkładu występującego na jego powierzchni (rozkładu potencjału obliczanego)
krok 3.: powtarzane przeliczanie potencjału obliczanego aż rozkład potencjału obliczanego będzie się zgadzał z rozkładem potencjału obserwowanego (mierzonego);system używa do tego jako zmiennych rezystancji warstw kompozytowej i pośredniczącej, gdy wymienione rozkłady się zgodzą wyprowadza zmienne; przy przeliczaniu system używa wprowadzonych przez użytkownika parametrów o znanych wartościach: grubości warstwy kompozytowej, grubości warstwy kolektora prądu i rezystancji warstwy kolektora prądu
• Informacje niezbędne do obliczania:
- grubość warstwy kompozytowej [µm] (dla jednej strony)
- grubość warstwy kolektora prądu [µm]
- rezystywność objętościowa warstwy kolektora prądu [Ωcm]
• Czas pomiaru (przybliżony): warunki standardowe: 65 s ( w tym 30 s na sprawdzenie styku i pomiar rozkładu potencjału oraz 35 s na przeliczanie). Może się zmienić w zależności od obiektu pomiarowego i wydajności przetwarzania współpracującego komputera
• Prąd pomiarowy: od 10 µA do 10 A
• Liczba sond pomiarowych w głowicy testowej: 46
• Zalecane parametry komputera użytkownika:
- jednostka centralna: Intel Core i7, 2,4 GHz, 4 lub więcej rdzeni
- pamięć RAM: 8 GB lub więcej (niezbędne 4 GB)
- system operacyjny: Windows 7 (64 bit), 8 (64 bit), 10 (64 bit)
• Funkcja pomiaru temperatury: system mierzy temperaturę w pobliżu głowicy testowej
• W skład systemu wchodzi: moduł ściskający RM9003, głowica pomiarowa RM9004, miernik rezystancji elektrod RM2611, przewód RM9005 łączący głowicę z miernikiem rezystancji oraz komputer użytkownika
• Akcesoria w komplecie fabrycznym systemu: sonda temperaturowa Z2001, przewód USB, klucz z licencją USB, płytka do sprawdzania sond, przewód sieciowy, instrukcja obsługi
• Akcesoria opcjonalne: narzędzie do konserwacji RM9006 (zestaw do czyszczenia sond pomiarowych).

Pliki do pobrania:

Koszty dostawy Cena nie zawiera ewentualnych kosztów płatności

Kraj wysyłki:

Opinie o produkcie (0)

do góry
Sklep jest w trybie podglądu
Pokaż pełną wersję strony
Sklep internetowy Shoper.pl