HIOKI BT6075 - precyzyjny, laboratoryjny tester akumulatorów, AC-IR rozdzielczość 0,01 µΩ , DCV rozdzielczość 1 µV, temperatura, bardzo szybki (pomiar co 12 ms)

BT6075 - precyzyjny, laboratoryjny tester akumulatorów firmy HIOKI
• Mierzy rezystancję wewnętrzną (AC-IR) prądem przemiennym oraz napięcie stałe (OCV)
• Do testu rezystancji wewnętrznej wykorzystuje metodę czteroprzewodową i sygnał przemienny
o częstotliwości 1 kHz. Dzięki użyciu czterech przewodów na wynik pomiaru nie ma wpływu rezystancja kablowania pomiarowego
• Podzakresy pomiarowe rezystancji wewnętrznej: 3 mΩ, 30 mΩ, 300 mΩ, 3 Ω, 30 Ω
• Maksymalna rozdzielczość wskazania rezystancji wewnętrznej: 0,01 µΩ (5 i ½ cyfry)
• Podzakresy pomiarowe napięcia: 10 V, 100 V
• Maksymalna rozdzielczość wskazania napięcia stałego: 1 µV - (7 i ½ cyfry)
• Doskonała dokładność pomiaru rezystancji wewnętrznej: ±0,08% w.w. ± 0,08 µΩ (przy prądzie pomiarowym 300 mA)
• Dokładność pomiaru napięcia stałego: ±0,0012% w.w. ± 11 µV porównywalna z dokładnością woltomierza wysokiej klasy
• Szybki test bez bez jednoczesnego pogarszania dokładności
- Własność jednoczesnego pomiaru rezystancji i napięcia za pomocą jednego przyrządu
Tester BT6075 umożliwia dzięki przetwarzaniu równoległemu danych pomiarowych rezystancji i napięcia skrócenie o ok. połowę czasu potrzebnego na wykonanie testu. 
- 6 ustawień czasów próbkowania

Funkcja pomiarowa		Szybki 1	Szybki 2	Średni 1	Średni 2	Wolny 1	Wolny 2
ΩV	50 Hz	4 ms	10 ms	20 ms	40 ms	100 ms	200 ms
	60 Hz			17 ms	33 ms

Tester BT6075 umożliwia pomiar z dużą szybkością przekraczającą znacznie szybkość uzyskiwaną za pomocą konwencjonalnych testerów akumulatorów. Wyposażony w dwa przetworniki a-c jest w stanie wykonać jednoczesny pomiar rezystancji i napięcia w czasie zaledwie 12 ms. W efekcie może być używany do budowy systemów wyróżniających się zarówno wydajnością testowania, jak i precyzją.
• Stabilny pomiar w trybie MIR (redukcja wzajemnych zakłóceń)
Wzajemne zakłócanie powoduje zwykle fluktuacje mierzonych wartości w sytuacjach, w których dwa testery akumulatorów znajdują się bardzo blisko siebie. Tryb MIR redukuje wtedy wzajemne zakłócenia, zapewniając stabilny pomiar. Funkcja ta umożliwia dokładny pomiar przy testowaniu równoległym z dużą szybkością za pomocą dwóch testerów.
Dzięki tej funkcji:
- Nie ma potrzeby używania dodatkowych akcesoriów takich jak np. przewody do synchronizacji
- W przeciwieństwie do starszej techniki znanej jako funkcjonalność wyprowadzania sygnału impulsowego, tryb MIR umożliwia rzetelne testowanie równoległe.
• Kompensacja poszczególnych kanałów przy regulacji referencyjnej
Gdy testuje się rzędy akumulatorów pracujących w systemie, to prądy wirowe występujące w metalowych obudowach akumulatorów przylegających do siebie powodują błędy pomiarowe. W takich sytuacjach funkcja regulacji referencyjnej, używając jako odniesienie akumulatora bieżącego, dokładnie kompensuje wpływy tych prądów wirowych i w efekcie pozwala na pomiar bardziej dokładny.
Własności funkcji regulacji referencyjnej:
- Regulacja referencyjna: maksymalnie 528 kanałów
- Korzystając z funkcji "zapisu ustawień płyty przedniej" można zapisywać w pamięci przyrządu dane regulacyjne maksymalnie sześciu akumulatorów (6 × 528 kanałów).  
• Własność niezależnego testowania akumulatorów przy połączeniu równoległym dwóch testerów BT6075, przy czym nie ma potrzeby używania dodatkowych kabli do synchronizacji
• Funkcja regulacji referencyjnej w maksymalnie 528 kanałach kompensująca wpływ prądów wirowych występujących w akumulatorach przylegających do siebie przy użyciu bieżącego akumulatora jako odniesienie.
• Poprawiona znacznie tolerancja rezystancji ścieżki pomiarowej poprawiająca znacznie niezawodność długoterminową systemów testujących
Rezystancja ścieżki jest wartością całkowitej sumy rezystancji okablowania pomiarowego i rezystancji styku sondy w danym systemie testującym. Ponieważ BT6075 wyróżnia się wysoką tolerancją rezystancji ścieżki, zapewnia zatem dużą odpornością na niekorzystne zdarzenia takie jak, pogorzenie się z czasem własności sondy lub zwiększenie się rezystancji styku przekaźnika. Własność ta chroni przed nagłymi zatrzymaniami systemu testującego przy jednoczesnym zmniejszeniu czasu niezbędnego do uruchomienia systemu.
Tolerancja całkowita ścieżki:
10 Ω przy prądzie pomiarowym 300 mA (tylko na podzakresie 3 mΩ)
50 Ω przy prądzie pomiarowym ≤ 100 mA  (na wszystkich podzakresach)
• Monitor ścieżki rezystancyjnej umożliwiający ciągłe monitorowanie błędów i wyświetlanie ostrzeżeni zanim wystąpi błąd pomiaru
Monitor ścieżki rezystancyjnej wyświetla wartości rezystancji poszczególnych ścieżek przy pomiarze czteroprzewodowym. Funkcja ta umożliwia użytkownikowi ciągłe śledzenie stanu ścieżki w celu ewentualnego wychwycenia błędów okablowania takich jak na przykład, zużycie się sondy lub przerwanie jej przewodu. Dzięki tej własności można przewidywać potrzeby wykonania konserwacji, a także zmniejszać koszty operacyjne dzięki wydawaniu tylko słusznych decyzji co do wymiany sondy, opierających się na danych liczbowych.
Własności monitora ścieżki rezystancyjnej:
- Ustawienia dwuprogowe: ZŁY, DOBRY
- Poprawa rzetelności testowania przez jednoczesny pomiar rezystancji ścieżki dla funkcji Ω i R
• Pomiar temperatury otoczenia za pomocą opcjonalnego czujnika temperatury Z2005
• Funkcja oceny komparatorowej. Po wprowadzeniu wartości granicznych rezystancji i napięcia, komparator przyrządu generuje po pomiarze wskazania (Hi, In, Lo) oznaczające przekroczenie lub nieprzekroczenie wartości granicznej przez wynik pomiaru
• Po włączeniu funkcji uśredniania zmierzonych wartości - dzięki uśrednianiu otrzymywanych wyników z wybraną wcześniej liczbą uśrednień (od 1 do 256) wskazania przyrządu stają bardziej stabilne
• Pamięć warunków pomiaru - użytkownik może zapisać w pamięci przyrządu i przywołać w razie potrzeby maksymalnie 6 zestawów warunków pomiaru włącznie z wartościami regulacji referencyjnej
• Kalibracja własna rezystancji i napięcia stałego - pozwala zachować wysoką dokładność pomiaru przez korygowanie fluktuacji wzmocnienia i znikomego dryftu parametrów wewnętrznego układu pomiarowego przyrządu
• Wyświetlanie reaktancji X i impedancji Z - funkcja przydatna do usuwania problemów pojawiających się przy włączaniu systemu i optymalizowania ułożenia okablowania pomiarowego
• Tryb kompatybilności rozkazowej - właściciel poprzedniej wersji testera akumulatorów BT3562A może go zastąpić nowym BT6075 bez żadnych modyfikacji i od razu sprawdzać poprawną pracę nowo zainstalowanego sprzętu
• Monitor EXt. I/O - oprócz sprawdzania na ekranie sygnałów doprowadzanych przez łącze EXT. I/O można w razie potrzeby włączać i wyłączać sygnały wyprowadzane. Własność ta upraszcza również programowanie PLC
• Monitor rozkazów - wyświetla na ekranie dane komunikacyjne (odebrane rozkazy i wysłane dane). Własność ta jest przydatna przy sprawdzaniu programowania PLC
• Hioki oferuje dedykowany multiplekser optymalizowany do pomiaru z dużą precyzją i szybkością tj. ramę przełączającą SW1002 lub SW1002 (z modułami SW9001 - przy pomiarze czteroprzewodowym jeden moduł może przełączać 11 kanałów). Moduły ramy można zerować, aby korygować błędy spowodowane wpływem prądów wirowych i uzyskiwać dzięki temu większą dokładność systemu.
  
DANE TECHNICZNE
Dane podstawowe
• Podzakresy pomiarowe rezystancji wewnętrznej: 3 mΩ, 30 mΩ, 300 mΩ, 3 Ω, 30 Ω
• Podzakresy pomiarowe napięcia: 10 V, 100 V
• Funkcje (tryby) pomiarowe: ΩV, Ω, V
• Rezystancja wejściowa DC (na podzakresie 10 V)

Funkcja pomiarowa	10 MΩ	Duże Z
ΩV/Ω	10 MΩ ± 10%	≥ 1 GΩ
V	10 MΩ ± 10%	≥ 10 GΩ

(Gdy używa się podzakresu 100 V, to jest ustawiona na stałe na 10 MΩ.)
• Maksymalne napięcie wejściowe: DC ± 120 V
• Maksymalne znamionowe napięcie linia pomiarowa - masa: DC ± 120 V
• Czasy próbkowania:

Funkcja pomiarowa		Szybki 1 (FAST 1)	Szybki 2 (FAST 2)	Średni 1 (MED1)	Średni 2 (MED2)	Wolny 1 (SLOW1)	Wolny 2 (SLOW2)
ΩV	50 Hz	4 ms	10 ms	20 ms	40 ms	100 ms	200 ms
	60 Hz			17 ms	33 ms
Ω	50 Hz	4 ms	10 ms	20 ms	40 ms	100 ms	200 ms
	60 Hz			17 ms	33 ms
V	50 Hz	4 ms	10 ms	20 ms	40 ms	100 ms	200 ms
	60 Hz			17 ms	33 ms

•  Czas dodawany przy pomiarze rezystancji MIR: od 6 ms do 12 ms
(przy włączonym trybie MIR pomiaru rezystancji)
• Czas odpowiedzi: ok. 8 ms (gdy mierzy się tylko rezystancję i napięcie akumulatora 4 V)
• Warunki gwarantowania dokładności:
- Zakres temperatur i wilgotności względnych gwarantowania dokładności:
23 °C ± 5 °C, ≤ 80%
- Kalibracja własna rezystancji: wykonywana po upływie czasu podgrzewania
- Kalibracja własna napięcia stałego: wykonywana po upływie czasu podgrzewania
- Przetwarzanie regulacji:
 Pomiar rezystancji: po zerowaniu lub po włączeniu regulacji referencyjnej
 Pomiar napięcia stałego: po zerowaniu
• Funkcje:
Uśrednianie (do 256 razy), sprawdzanie styku, kalibracja własna rezystancji, kalibracja
własna napięcia stałego, zerowanie (w 528 kanałach), regulacja referencyjna (w 528 kanałach),
monitor ścieżki rezystancyjnej, tryb MIR pomiaru rezystancji, komparator, kompatybilność
rozkazowa (z testerem akumulatorów BT3562A), zapis ustawień płyty przedniej (liczba dostępnych
zestawów: 6), monitor rozkazów, test łącza EXT I/O
• Dokładność pomiaru rezystancji:

		Zakres (prąd pomiarowy)*1
WOLNY 2		3 mΩ (300 mA)	3 mΩ (100 mA)	30 mΩ (100 mA)	300 mΩ (10 mA)	3 Ω (1 mA)	300 Ω (100 µA)
		±0,08% w.w.				±0,10% w.w.	±0,15% w.w.
Wysoka rozdzielczość	wył.	±0,1 µΩ	±0,5 µΩ	±1 µΩ	±10 µΩ	±100 µΩ	±1 mΩ
	wł.	±0,08 µΩ	±0,50 µΩ	±0,5 µΩ	±5 µΩ	±50 µΩ	±0,5 mΩ

Maksymalna wartość wyświetlana
Wysoka rozdzielczość	wył.	5,1000 mΩ	5,1000 mΩ	51,000 mΩ	510,00 mΩ	5,1000 Ω	51,000 Ω
	wł.	5,10000 mΩ	5,10000 mΩ	51,0000 mΩ	510,000 mΩ	5,10000 Ω	51,0000 Ω

Rozdzielczość
Wysoka rozdzielczość	wył.	0,1 Ω	0,1 µΩ	1 µΩ	10 µΩ	100 µΩ	1 mΩ
	wł.	0,01 µΩ	0,01 µΩ	0,1 µΩ	1 µΩ	10 µΩ	100 µΩ
Częstotliwość prądu pomiarowego		1 kHz ± 0,2 Hz

*1. Wartość skuteczna, błąd prądu pomiarowego w przedziale ±10%
Dodatkowe pogorszenie dokładności
Współczynnik temperaturowy: do dokładności pomiaru dodać następującą wartość: jeśli temperatura
mieści się w zakresie od 0 °C do 18 °C lub od 28 °C do 40 °C: (dokładność pomiaru × 0,1) / °C
Ponadto, gdy jest włączony tryb MIR pomiaru rezystancji: dodać do dokładności pomiaru
rezystancji: ±0,01% w.w.   
• Dokładność pomiaru napięcia stałego:

	Podzakres
WOLNY 2 (szybkość próbkowania)	10 V	100 V
	±0,0012% w.w. ± 11 µV	±0,003% w.w. ± 0,60 mV